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行业资讯

涂层测厚仪测量注意事项

更新时间:2018-05-02

涂层测厚仪测量注意事项:

 

1、基体金属特性:对于磁性方面,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 

 

2、基体金属厚度:检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后,可以测量。 

 

 

3、边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角 等处进行测量。

 

4、曲率:不应在试件的弯曲表面上测量。 

 

5、读数次数:通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,

也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。 

 

 

 

6、表面清洁度:测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。

 

7、磁场:周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。 

 

8、测头取向:测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。