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行业资讯

涂层测厚仪探头的选择

更新时间:2018-06-05

       涂层测厚仪探头选择:

     A.磁性法:F型测头(只对导磁物体生效)

     当测尖与覆盖层接触,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

    B.涡流法:N型测头

   利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的硬度。